CCD综合实验系统 TP-OEC1
TP-OEC1 CCD 综合实验系统是在《光电子学》课程重要章节《CCD原理与应用》的基础上开发的综合实验。该实验采用模块化、开放式设计，直观展现了线阵、面阵CCD的工作原理，并且设置了工程实践常用的测试项目实验，是学生认识和理解CCD工作原理与应用实际的理想教学实验系统。
型号：
TP-OEC1
应用：
CCD综合实验系统
关键词：
CCD综合实验系统 TP-OEC1
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详情描述
TP-OEC1 CCD 综合实验系统是在《光电子学》课程重要章节《CCD原理与应用》的基础上开发的综合实验。该实验采用模块化、开放式设计，直观展现了线阵、面阵CCD的工作原理，并且设置了工程实践常用的测试项目实验，是学生认识和理解CCD工作原理与应用实际的理想教学实验系统。
主要实验内容
线阵：
1. 线阵CCD驱动实验
2. 线阵CCD特性测量实验
3. 线阵CCD二值化实验
4. 工件直径测量实验
5. 角位测量实验
面阵：
1. 面阵CCD驱动实验
2. 面阵CCD特性测量实验
3. 面阵CCD数据采集实验
4. 图像点运算实验
5. 工件二维尺寸测量实验
6. 印刷品颜色检测实验
知识点
CCD基本工作原理、转移效率、移动损失率、工作频率、光电转移特性、光谱响应、动态范围、暗电流、 分辨率、积分时间、CCD驱动时序、CCD信号处理与计算机数据采集。
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