SZ-30 光学测角台

特点1.用于反射起偏、折射起偏、测布儒斯特角自带 X轴2.自带观察屏,旋转架规格参数测量精度:1mm直径:80mm

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SZ-30 光学测角台

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1.用于反射起偏、折射起偏、测布儒斯特角自带 X轴
2.自带观察屏,旋转架

测量精度:1mm
直径:80mm

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